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产品型号：TSE320-S
更新时间：2024-12-28
TSE320-S快速型一键闪测量仪
产品简介
TSE-300系列拼接式闪测仪采用双远心光学系统，结合高精度图像拼接测量算法。不仅能快速测量产品的平面尺寸和形位公差，还可搭配镭射（点激光、线激光）测量段差、深度和平面度等尺寸。仪器量测范围可达300*200mm，测量效率是传统影像仪器的10-20倍
1）超高的效率，单次可拼接测量300*200mm的范围，可同时测量上百个产品。30s内即可测量上千个尺寸，效率是传统仪器的10-20倍。
2）优秀的模板匹配功能，产品可任意摆放，无需治具。具有多种模板匹配模式，确保复杂工件都能够精准匹配。
3）强大的拼接测量功能，可支持多图层、多光源切换拼接，不仅可以测量薄片类产品，还可以测量有一定厚度的产品。
4）完善的测量工具，可直接测量点、线、圆、弧、轮廓；丰富的构造工具包含相交、相切、垂直、平行、镜像、平移、旋转；
5）完善的坐标体系，支持工件多重坐标系，支持坐标平移、旋转、调用；
6）支持点激光、线激光，可同时测量高度差、深度、平面度。
TSE320-S快速型一键闪测量仪
| 项目 | 参数 | |
| 型号 | TSE320-S | |
| 测量范围 | 范围 | 280*170mm ；240*150mm（9图拼接） |
| 单视野 | 82*55mm | |
| 移动行程(X/Y/Z) | 200mm * 120mm * 75mm | |
| 测量精度 | 有拼接 | ±(4.5+L/150)μm |
| 无拼接 | ±3μm | |
| *标准件为被测产品 | ||
| 光学镜头 | 双远心光学镜头 | |
| 图像传感器 | 2000万像素 | |
| 软件 | 基于机器学习的图像轮廓匹配算法 | |
| 亚像素精度几何测量算法 | ||
| 非线性光学系统畸变校正算法 | ||
| 多核、多 CPU、GPU 等图像加速处理算法 | ||
| 外形尺寸 | 540mm * 465mm * 760mm | |
| 电源 | AC 220V±10% 50Hz | |
| 环境要求 | 温度(T)：20±2℃；相对湿度(RH)：30--80% | |
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